Zur Schönheit defekter Schaltkreise

Die IEEE schreibt jährlich einen Fotowettbewerb aus, der die schönsten Fotos fehlerhafter Schaltkreise und Mikroelektronik prämiert. Kaputt kann so schön sein.

Auch in diesem Jahr gab es zum Internationalen Symposium über die physikalische und Fehler-Analyse Integrierter Schaltkreise des Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) einen Fotowettbewerb. Die interessantesten Wettbewerbsbeiträge sehen Sie hier.

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