Die Kunst des Scheiterns

Zur Schönheit defekter Schaltkreise

23. August 2013, 15:31 Uhr   |  Hagen Lang

Zur Schönheit defekter Schaltkreise
© IEEE, Xing Wu/ Southeast University

Statt eine wabenförmige Struktur, wie erhofft, bildete das Tungstenit sich in Form eines Ninja-Wurfsterns, eines shuriken aus. Entdeckt hat ihn Xing Wu von der Southeast University in China.

Die IEEE schreibt jährlich einen Fotowettbewerb aus, der die schönsten Fotos fehlerhafter Schaltkreise und Mikroelektronik prämiert. Kaputt kann so schön sein.

Auch in diesem Jahr gab es zum Internationalen Symposium über die physikalische und Fehler-Analyse Integrierter Schaltkreise des Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) einen Fotowettbewerb. Die interessantesten Wettbewerbsbeiträge sehen Sie hier.

Die Kunst des Scheiterns

Den ersten Preis im Fotowettbewerb des International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2013) gewann Che Su Fang von Xilinx Asia Pacific in Sigapure mit seinen an Töpfen für Sojasauce erinnernden Röntgenaufnah
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Das kleine Hündchen hat seinen Weg auf einen Chip in Joanna Grace V. De la Cruz Labor bei Analog Devices gefunden.

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