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Advantest: V93000-Tester erweitert Chip-Debugging und Fehleranalyse

Weniger Zeitaufwand für die Patterngenerierung und erweitertes Chip-Debugging und Fehleranalyse verspricht Advantest mit seinem um die SmartShell-Software erweiterten V93000-Tester.

V93000 Multi-Site-mmWave-ATE-Testlösung von Advantest Bildquelle: © Advantest

V93000 Multi-Site-mmWave-ATE-Testlösung von Advantest

Halbleiter-Testgeräte-Anbieter Advantest hat die Funktionalitäten seiner V93000 SmarTest-Software um SmartShell erweitert. Dabei handelt es sich um eine neue Software, die eine direkte Kommunikation zwischen einem skalierbaren V93000 Tester und EDA-Umgebungen (Electronic Design Automation) wie der Tessent Silicon Insight Software von Mentor ermöglicht.

EDA-Tools und Testsystem können sich über Remote-Zugriff mit einem Online-Netzwerk verbinden, Testpattern zur Ausführung senden, ändern sowie Ergebnisse und Fehlerinformationen direkt abrufen, anstatt mehrere Formatkonvertierungen durchzuführen. 

Entwicklungsingenieure erstellen traditionell aus einer Simulationsumgebung Testpattern für Scan-, JTAG- und BIST-Auswertungen und speichern diese im STIL-Format. Die Pattern werden dann in testerspezifische Formate umgewandelt und auf automatischen Testgeräten (ATE) ausgeführt, bevor die Ergebnisse als STDF- oder TXT-Dateien an die IC-Entwicklungsabteilung zurückgesendet werden. Dieser Prozess kann äußerst zeitaufwendig sein, insbesondere wenn mehrere Durchläufe erforderlich sind, um Pattern für den Test in der Produktion für neue ICs zu erstellen.

Die SmartShell-Software ermöglicht es externen Design-, die Pattern direkt an ein Testsystem zu übermitteln, auszuführen, Ergebnisse zu sammeln und bei Bedarf Änderungen vorzunehmen. Dies wird durch eine einfache Reihe von Befehlen, die von verschiedenen Skripting- und Programmiersprachen unterstützt werden, ermöglicht. Damit verkürzt sich die Entwicklungszeit für die Pattern von neuen ICs und Debugging- und Datenerfassungsszenarien für interne JTAG (IEEE 1687) und andere Design-for-Test-Technologien (DfT) werden ermöglicht.

»Durch den kurzen und direkten Pfad von DfT zu ATE unterstützen wir unsere Kunden, die ständig wachsende Komplexität der ICs in kürzerer Zeit zu bewältigen«, sagte Ralf Stoffels, Vice President of Marketing für den V93000 von Advantest. »Neben der Entwicklung von Testlösungen, die auf dem V93000 System eingesetzt werden können, entwickelt unsere T6391 Produktgruppe eine ähnliche Softwarebrücke für ihre Plattform. Gleichzeitig arbeiten wir weiterhin sehr eng mit unseren EDA-Partnern zusammen, um integrierte Lösungen anbieten zu können, die allen Anforderungen unserer gemeinsamen Kunden gerecht werden.«