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Instrument Systems Optische Messtechnik: Goniophotometer für mittlere bis große LEDs & SSL-Quellen

Instrument Systems bringt mit dem Goniophotometer LGS 650 ein neues Messsystem für Solid-State-Lighting und LED-Module. Es bestimmt in Kombination mit Spektralradiometern oder Photometern alle spektralen Kenngrößen wie Farbkoordination, -temperatur und -wiedergabeindex als Funktion des Winkels.

LGS 650 Bildquelle: © Instrument Systems Optische Messtechnik GmbH

Das LGS 650 von Instrument Systems eignet sich speziell für die Bestimmung der winkelabhängigen Abstrahlcharakteristik mittlerer bis großer SSL-Quellen und LED-Module bis zu einem Durchmesser von 1300 mm und einem Gewicht von 10 kg.

Prüflinge werden in einer horizontalen Brennlage vermessen und über einen Winkelbereich von ± 160 ° in Abstrahlrichtung des Prüflings um die Gamma-Achse verfahren. Die Winkelauflösung von 0.01 ° spannt ein feines Messgitter auf und generiert präzise und reproduzierbare Messdaten. Das LGS 650 ist konform mit allen relevanten Spezifikationen in CIE, DIN und IES Normen.

Mit einem Spektralradiometer von Instrument Systems, wie z.B. dem CAS 140D, werden radiometrische und farbmetrische sowie photometrische Kenngrößen mit präzise winkelabhängig bestimmt. Für zeitkritische Messungen bietet Instrument Systems passende Photometer an, wie z.B. das neue DSP 200. Diese können die Messwerte »on the fly« erfassen, d.h., während das Goniophotometer kontinuierlich in Bewegung ist. 

Das LGS 650 wird über das Goniophotometer-Modul der SpecWin Pro-Software betrieben, das zwei Messabläufe zur Verfügung stellt: den Sequenzmodus und den Serienmodus. In beiden Fällen regelt die Software die Bestromung und Ansteuerung des Prüflings und nimmt elektrische Messdaten auf. Spannung, Stromstärke, Einschalt- und Einbrennvorgang sowie die Sequenzabfolge sind dabei speicherbare Voreinstellungen und können für wiederkehrende Messaufgaben abgerufen werden.

Die Software SpecWin Pro verfügt über verschiedene Darstellungsmöglichkeiten der räumlichen Abstrahlcharakteristik: radial, halb-radial, kartesisch, sphärisch und 3-D. Die Messprotokolle sind frei konfigurierbar und können auch in weitere Formate wie IES und EULUMDAT für die Verwendung in Simulationsprogrammen exportiert werden.