Zwei französische Forschungseinrichtungen haben eine elektronische Schaltung entwickelt, das die Strom-Spannungs-Kennlinie (U-I-Diagramm) in weniger als einer Millisekunde verfolgt und Module vom System zu trennen.
Das patentierte System eignet sich wegen einer Größe von nur wenigen Quadratzentimetern gut zur Integration in vorhandene Module. Es ermöglicht eine Erfassung von Fehlern und Anomalien sowie deren genaue Analyse und Lokalisierung. Vermeiden lässt sich dadurch auch die händische Prüfung von Modulen durch einen Techniker mittels UI-Tracer.
Die Forscher des Labors zur Entwicklung von neuen Energietechnologien "LITEN" und der Forschungseinrichtung CEA TECH der französischen Behörde für Atomenergie und alternative Energien (CEA) haben das Diagnosesystem im Hinblick auf die bald geplante Einführung einer europäischen Norm für Abschalt-Systeme in allen PV-Modulen entwickelt.
Sie entwickelten dazu auch eine Software, die in der Lage ist, die U-I-Diagramme zu analysieren und für den Verlauf bestimmter Fehler charakteristische elektrische Signaturen zu detektieren und zuzuordnen.